Компания IBM представила новый метод прямой обработки подложек с помощью атомного микроскопа (atomic force microscope, AFM).

В данном методе микроскоп используется в качестве устройства, управляющего и контролирующего процесс литографической обработки на молекулярном уровне. Традиционным методом контроля при глубоком ионном внедрении является своеобразное "прощупывание" поверхности, по методу IBM контроль будет осуществляться похожим на струйные принтеры способом.

Одной литографией прикладная сторона разработки IBM не ограничивается. По словам представителя компании, данный метод будет полезен для других "нано" устройств, начиная от устройств для расшифровки ДНК, заканчивая приборами для обычных тестов крови. Улучшенный контроль и увеличенная скорость обработки позволит ускорить отделение биологических молекул во множестве медицинских задач. Например, IBM измерила скорость электрофореза, которая оказалась в 100000 раз быстрее, чем обеспечиваемая традиционными методами.

Порядок цифр измеряется миллисекундами. Если вернуться к полупроводниковой теме, то позиционирование с помощью атомного микроскопа позволит создавать структуры не менее чем в 5 раз меньше, по сравнению с традиционной литографией.

Атомный микроскоп был изобретен нобелевскими лауреатами Гердом Биннингом (Gerd Binnig) и Хайнрихом Рорером (Heinrich Rohrer), работающими в исследовательской лаборатории г. Цюрих, принадлежащей голубому гиганту.